Читайте только на Литрес

Kitap dosya olarak indirilemez ancak uygulamamız üzerinden veya online olarak web sitemizden okunabilir.

Основной контент книги Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Metin PDF

Cilt 642 sayfalar

0+

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

yazarlar
rolf-peter vollertsen,
jordi sune
Читайте только на Литрес

Kitap dosya olarak indirilemez ancak uygulamamız üzerinden veya online olarak web sitemizden okunabilir.

₺8.572,97
%10 indirim al
Bu kitabı önerin ve arkadaşınız kitabı satın aldığında ₺857,30 kazanın.

Kitap hakkında

This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.

Türler ve etiketler

Giriş yapın, kitabı değerlendirmek ve yorum yapmak için
Kitab Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş sınırı:
0+
Litres'teki yayın tarihi:
26 ağustos 2019
Hacim:
642 s.
ISBN:
9780470455258
Toplam boyut:
8.2 МБ
Toplam sayfa sayısı:
642
Metin
Ortalama puan 4,7, 253 oylamaya göre
Ses
Ortalama puan 4,2, 736 oylamaya göre
Metin
Ortalama puan 4,9, 52 oylamaya göre
Metin
Ortalama puan 4,9, 2618 oylamaya göre
Ses
Ortalama puan 4,8, 67 oylamaya göre
Metin PDF
Ortalama puan 0, 0 oylamaya göre