Основной контент книги Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Metin PDF
Cilt 642 sayfalar
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
yazarlar
rolf-peter vollertsen,
jordi sune
₺8.572,97
%10 indirim al
Bu kitabı önerin ve arkadaşınız kitabı satın aldığında ₺857,30 kazanın.
Kitap hakkında
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.
Türler ve etiketler
Giriş yapın, kitabı değerlendirmek ve yorum yapmak için
Kitab Rolf-Peter Vollertsen, Jordi Sune «Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş sınırı:
0+Litres'teki yayın tarihi:
26 ağustos 2019Hacim:
642 s. ISBN:
9780470455258Toplam boyut:
8.2 МБToplam sayfa sayısı:
642Telif hakkı:
John Wiley & Sons Limited