%10 indirim al
Bu kitabı önerin ve arkadaşınız kitabı satın aldığında ₺4,46 kazanın.
metinPDF
Cilt 43 sayfalar
2013 yıl
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
₺44,53
Kitap hakkında
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Türler ve etiketler
Yorum gönderin
Giriş, kitabı değerlendirin ve yorum bırakın
Kitap açıklaması
В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».
Kitab Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş sınırı:
0+Litres'teki yayın tarihi:
29 mart 2018Yazıldığı tarih:
2013Hacim:
43 s. Toplam boyut:
748 КБToplam sayfa sayısı:
43Telif hakkı:
МИСиС
