Sadece LitRes`te okuyun

Kitap dosya olarak indirilemez ancak uygulamamız üzerinden veya online olarak web sitemizden okunabilir.

Основной контент книги Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов
ТекстmetinPDF

Cilt 43 sayfalar

2013 yıl

0+

Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов

yazarlar
Дмитрий Крутогин,
Олег Рабинович
PDF
0
Yorum ekleyin
ru
Kitap rusça
Sadece LitRes`te okuyun

Kitap dosya olarak indirilemez ancak uygulamamız üzerinden veya online olarak web sitemizden okunabilir.

₺40,34
%10 indirim al
Bu kitabı önerin ve arkadaşınız kitabı satın aldığında ₺4,04 kazanın.

Kitap hakkında

В лабораторном практикуме излагаются теоретические основы технологических процессов роста полупроводниковых материалов и методы контроля их электрофизических и структурных параметров. Материал практикума соответствует учебному плану курса «Основы технологии электронной компонентной базы».

Türler ve etiketler

DeneyimlerMalzeme bilimi

Yorum gönderin

Giriş, kitabı değerlendirin ve yorum bırakın
Kitab Дмитрия Крутогина, Олега Рабиновича «Основы технологии электронной компонентной базы. Методы контроля характеристик материалов в технологических процессах получения тонкопленочных материалов» — saytda onlayn oxuyun. Şərh və rəylərinizi qeyd edin, sevimlilərinizi seçin.
Yaş sınırı:
0+
Litres'teki yayın tarihi:
29 mart 2018
Yazıldığı tarih:
2013
Hacim:
43 s.
Toplam boyut:
748 КБ
Toplam sayfa sayısı:
43
Telif hakkı:
МИСиС

Bu kitabı okuyanlar şunları da okudu

Bu yazarın diğer kitapları